Новий метод генерування тестових кодів для виявлення множинних пошкоджень Stuck-at-Faults у комбінаційних схемах. Частина 1
| dc.contributor.author | Рицар, Богдан Євгенович | |
| dc.date.accessioned | 2026-02-17T07:44:26Z | |
| dc.date.available | 2026-02-17T07:44:26Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.description | The article is devoted to a new method of generating test codes to detect multiple damages in digital combinational circuits, which is based on the artificial introduction of nonessential variables and the application of the procedure of q-partition of minterms of a given function. Due to the use of a numerical set-theoretic approach, the proposed method differs from the known ones in a relatively simpler practical implementation to detect stuck-at-faults (0/1) type both at one point and at several points simultaneously of the circuit under study. | |
| dc.description.abstract | Вступ. Важливим розділом логікового проєктування цифрових пристроїв є технічна діагностика, в межах якої розробляються методи перевірки технічного стану пристроїв для забезпечення надійності їх роботи. Виявити несправність у схемі пристрою можна послідовністю контрольних тестів (генеруванням векторів тестових кодів) на її входах та спостереження результатів на її виходах. На практиці проєктування мікросхем часто трапляються ситуації, коли пошкодження типу stuck-at-faults (0/1) можуть виникати як в одній точці схеми, так і в кількох різних взаємопов’язаних точках схеми одночасно, які складно виявляти. Відомі методи діагностики множинних пошкоджень такого типу, які ґрунтуються на моделюванні одиночних помилок та символьних методах, не забезпечують переконливі докази достовірності результату, що знижує надійність процесу проєктування. Мета статті. Запропонувати метод генерування векторів тестових кодів для виявлення як одиночних, так і множинних пошкоджень типу stuck-at-faults (0/1) у комбінаційних пристроях, який порівняно з відомими методами може забезпечувати достовірні результати з допомогою реалізації простих операцій і процедур. Методи. Запропонований метод генерування тестових кодів ґрунтується на числовому теоретико-множинному підході до реалізації всіх операцій і процедур, а саме: штучного впровадження у булвий простір повної функції f x x x ( , ,..., ) 1 2 ï , що описує роботу схеми досліджуваного комбінаційного пристрою, одної або більше (до n - 1 ) неістотних змінних та застосуванні процедури q-розбиття мінтермів досконалої ТМФ Y1 функції f. Результати. За допомогою згенерованих запропонованим методом векторів тестових кодів можна визначити в схемі пристрою як місце пошкодження, так і тип одиночного та множинного stuck-at-faults (0/1) пошкодження. Показано застосування процедури q-розбиття двійкових мінтермів, на основі якої реалізується впровадження одної неістотної змінної та формування псевдодосконалої ТМФ 1 Yxi /~ функції f для визначення одиночних пошкоджень, а також більше (від двох до n-1) неістотних змінних та формування відповідних псевдодосконалих ТМФ функції f для визначення множинних пошкоджень. Висновки. Завдяки застосуванню числового теоретико-множинного підходу для виконання операцій і процедур пропонований метод, порівняно з відомими, відрізняється відносно простішою практичною реалізацією виявлення згаданих несправностей як в будь якій одній точці, так і в одночасно кількох точках досліджуваної схеми. Зазначені переваги методу ілюструють наведені в статті приклади визначення можливих пошкоджень у реальних схемах комбінаційних пристроїв. | |
| dc.identifier.citation | Рицар, Б. (2025). Новий метод генерування тестових кодів для виявлення множинних пошкоджень Stuck-at-Faults у комбінаційних схемах. Частина 1. Information Technologies and Systems (Інформаційні технології та системи), 2(2), 34–54. https://doi.org/10.15407/intechsys.2025.02.034 | |
| dc.identifier.uri | https://nasu-periodicals.org.ua/index.php/its/article/view/15347 | |
| dc.identifier.uri | https://dr.csbc.edu.ua/handle/123456789/1286 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.publisher | Інститут інформаційних технологій та систем НАН України, Видавничий дім "Академперіодика" НАН України | |
| dc.subject | SOCIAL SCIENCES::Statistics, computer and systems science::Informatics, computer and systems science | |
| dc.subject | SOCIAL SCIENCES::Statistics, computer and systems science::Informatics, computer and systems science::Information technology | |
| dc.title | Новий метод генерування тестових кодів для виявлення множинних пошкоджень Stuck-at-Faults у комбінаційних схемах. Частина 1 | |
| dc.title.alternative | New Method for Generating Test Codes to Detect Multiple Stuck-at-Faults in Combinational Circuits. Part 1 | |
| dc.type | Article |