Новий метод генерування тестових кодів для виявлення множинних пошкоджень stuck-at-faults у комбінаційних схемах. Частина 2
| dc.contributor.author | Рицар, Богдан Євгенович | |
| dc.date.accessioned | 2026-02-16T14:32:37Z | |
| dc.date.available | 2026-02-16T14:32:37Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.description | The article is devoted to a new method of generating test codes to detect multiple stuck-at-faults (0/1) type damages in digital combinational PIPO-circuits, which is based on the artificial introduction of non-essential variables and the application of the procedure of q-partition of the system minterms of a given system of functions. Due to the use of the numerical set-theoretic approach, the proposed method differs from the known ones in a relatively simpler practical implementation to detect stuck-at-faults (0/1) type damages both at one point and simultaneously at several points simultaneously of the studied circuit. | |
| dc.description.abstract | Вступ. Діагностувати множинні несправності stuck-at-faults (0/1) у цифрових схемах типу PIPO значно складніше, ніж у пристроях типу PISO (частина 1). Функції системи переважно взаємопов’язані між собою, а отже, виявлене пошкодження в якійсь одній функції схеми може передатися інших функцій системи, що описує роботу досліджуваної схеми. Відповідно, методи генерування тестових кодів на основі одиночних несправностей не працюють для схем типу PIPO, а ті методи й алгоритми діагностики, що використовують моделювання одиночних несправностей, ускладнені додатковими процедурами, не дають надійного результату. Аналогічний висновок про певні практичні обмеження можна також зробити і до аналітичних підходів до розв’язання зазначеної проблеми виявлення множинних несправностей stuck-at-faults (0/1) у цифрових схемах типу PIPO. Мета статті. Запропонувати метод генерування векторів тестових кодів для виявлення як одиночних, так і множинних пошкоджень типу stuck-at-faults (0/1) у комбінаційних пристроях типу PIPO, який порівняно з відомими методами й алгоритмами може забезпечувати достовірні результати з допомогою реалізації простих операцій і процедур. Методи. Запропонований метод генерування тестових кодів ґрунтується на числовому теоретико-множинному підході до реалізації всіх операцій і процедур, а саме: штучного впровадження у буловий простір заданої системи повних функцій F(X), X = {x1, x2, …, xn }, що описує роботу досліджуваної PIPO-схеми, одної або більше (до n - 1) неістотних змінних та застосуванні процедури q-розбиття до системних мінтермів з урахуванням індексів функцій заданої системи F(X). Результати. Завдяки застосуванню процедури q-розбиття системних мінтермів впровадження «неістотних» змінних у буловий простір заданої системи забезпечує виявлення всіх можливих як одиночних, так і множинних пошкоджень типу stuck-at-faults (0/1) у досліджуваній схемі. Унаслідок цього формуються 2r ( r = 1, 2, ..., n-1 ) псевдодосконалих ТМФ «пошкодженої» системи F(X), на підставі яких після виконання простих операцій спрощення одержуються шукані вектори тестових кодів, з допомогою яких можна визначити в схемі як місце пошкодження, так і тип одиночного та множинного stuck-atfaults (0/1) пошкодження. Висновки. Запропоновано новий метод генерування векторів тестових кодів для визначення місця і типу stuck-at-faults (0/1) одиночних і множинних пошкоджень у комбінаційних PIPO-схемах, що ґрунтується на штучному впровадженні в досліджувану схему одної і більше неістотних змінних та застосуванні процедури q-розбиття системних мінтермів заданої системи булових функцій. Порівняно з відомими методами та алгоритмами метод відрізняється відносно простішою реалізацією та надійністю отриманих остаточних результатів практичної діагностики без застосування додаткових засобів та обмежень. Наведені в статті приклади визначення місця і типу stuck-at-faults (0/1) одиночних і множинних пошкоджень ілюструють ефективність пропонованого методу. | |
| dc.identifier.citation | Рицар, Б. (2025). Новий метод генерування тестових кодів для виявлення множинних пошкоджень stuck-at-faults у комбінаційних схемах. Частина 2. Information Technologies and Systems (Інформаційні технології та системи), 3(3), 3–29. https://doi.org/10.15407/intechsys.2025.03.003 | |
| dc.identifier.uri | https://nasu-periodicals.org.ua/index.php/its/article/view/19407 | |
| dc.identifier.uri | https://dr.csbc.edu.ua/handle/123456789/1279 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.publisher | Інститут інформаційних технологій та систем НАН України, Видавничий дім "Академперіодика" НАН України | |
| dc.subject | SOCIAL SCIENCES::Statistics, computer and systems science::Informatics, computer and systems science | |
| dc.subject | SOCIAL SCIENCES::Statistics, computer and systems science::Informatics, computer and systems science::Information technology | |
| dc.title | Новий метод генерування тестових кодів для виявлення множинних пошкоджень stuck-at-faults у комбінаційних схемах. Частина 2 | |
| dc.title.alternative | New Method for Generating Test Codes to Detect Multiple Stuck-at-Faults in Combinational Circuits. Part 2 | |
| dc.type | Article |